1. 개요: 왜 필드 정의가 중요한가?
MES에서 검사 데이터를 수집할 때 어떤 정보를 저장할 것인가는
Traceability, 품질 분석, 이력관리의 정확도를 결정합니다.
- 동일한 구조의 검사 데이터는 장비 간 통합 분석이 가능
- LOT, Panel, 좌표 기준으로 불량 추적을 정밀하게 수행
- 데이터 표준화는 MES의 확장성과 유지보수에 핵심적
2. 공정별 검사 항목 및 필드 구조
🔹 2-1. SPI (솔더 페이스트 검사)
| 필드명 | 설명 | 데이터 타입 |
|---|
검사일시 (inspection_time) | 검사 수행 시간 | DATETIME |
LOT 번호 (lot_no) | 검사 대상 LOT 식별자 | VARCHAR(50) |
패널 ID (panel_id) | PCB Panel ID | VARCHAR(50) |
위치 좌표 (xy_position) | 검사 위치 X,Y 좌표 | VARCHAR(50) |
패드 ID (pad_id) | 검사 대상 패드 식별자 | VARCHAR(30) |
솔더 높이 (solder_height) | μm 단위 솔더 두께 | FLOAT |
볼륨 비율 (volume_ratio) | 기준 대비 솔더량 % | FLOAT |
불량유형 (defect_type) | Excess, Insufficient, Shift 등 | VARCHAR(30) |
판정결과 (result) | OK/NG | CHAR(2) |
🔹 2-2. AOI (자동 광학 검사)
| 필드명 | 설명 | 데이터 타입 |
|---|
검사일시 (inspection_time) | 검사 시간 | DATETIME |
LOT 번호 (lot_no) | 검사 대상 LOT | VARCHAR(50) |
패널 ID (panel_id) | 패널 바코드 | VARCHAR(50) |
좌표 (xy_position) | X,Y 위치 좌표 | VARCHAR(50) |
부품명 (component_name) | 검사 대상 부품명 | VARCHAR(50) |
불량코드 (defect_code) | Solder Bridge, Missing 등 | VARCHAR(30) |
불량 심각도 (severity) | Major/Minor/Critical | VARCHAR(10) |
판정 (result) | OK/NG | CHAR(2) |
리워크 여부 (rework_flag) | 재작업 여부 (Y/N) | CHAR(1) |
작업자 ID (inspector_id) | 수동 검사 시 | VARCHAR(20) |
🔹 2-3. X-ray 검사
| 필드명 | 설명 | 데이터 타입 |
|---|
검사일시 (inspection_time) | 검사 시간 | DATETIME |
Panel ID (panel_id) | 검사 대상 PCB | VARCHAR(50) |
좌표 (xy_position) | BGA 위치 | VARCHAR(50) |
납땜 상태 (solder_joint_status) | Good, Void, Crack 등 | VARCHAR(30) |
Void 비율 (void_ratio) | % | FLOAT |
이미지 경로 (image_path) | 촬영 이미지 저장 경로 | VARCHAR(200) |
검사 결과 (result) | OK/NG | CHAR(2) |
🔹 2-4. 기능검사 (FCT)
| 필드명 | 설명 | 데이터 타입 |
|---|
검사일시 (test_time) | 기능 테스트 시간 | DATETIME |
제품 시리얼 (serial_no) | 개별 제품 ID | VARCHAR(50) |
테스트 항목 (test_item) | Voltage, LED On 등 | VARCHAR(50) |
측정값 (measured_value) | 실제 측정값 | FLOAT |
기준값 (spec_value) | 허용 기준값 | FLOAT |
판정 (result) | Pass/Fail | CHAR(5) |
🔹 2-5. 육안검사 (작업자 입력)
| 필드명 | 설명 | 데이터 타입 |
|---|
검사일시 (inspection_time) | 점검 시간 | DATETIME |
작업자 ID (worker_id) | 입력한 작업자 | VARCHAR(20) |
항목 (check_item) | Ex. 부품 삽입 여부 | VARCHAR(50) |
체크값 (check_value) | OK/NG | CHAR(2) |
비고 (note) | 특이사항 | TEXT |
3. 장비 연동 예시: CSV → MES 필드 매핑
🔸 AOI CSV 예 (출력 예시)
Time, PanelID, X, Y, PartName, DefectType, Severity, Result
2025-05-20 14:22:11, PN123456, 45.1, 33.5, C23, SolderBridge, Major, NG
➡ MES 변환 시 매핑 예:
Time → inspection_timePanelID → panel_idX, Y → xy_positionPartName → component_nameDefectType → defect_codeSeverity → severityResult → result
4. 데이터 저장 시 고려사항
| 항목 | 고려사항 |
|---|
| 좌표 정규화 | AOI/SPI에서 X,Y 좌표는 패널 기준 or 부품 기준인지 명확히 |
| 불량 코드 통일화 | AOI, 육안검사 간 defect_code 매핑 테이블 구축 필요 |
| 이미지 저장 | 이미지 파일은 별도 NAS/Blob에 저장하고 경로만 DB에 저장 |
| 이력보존 | Traceability 확보를 위해 검사 결과 최소 3~5년 보관 |
| 시간 동기화 | 장비와 MES 서버 간 NTP 적용 필수 (시간 이슈 방지) |
5. 결론: 표준화와 확장성 확보
품질 검사는 단지 “NG 판정”을 기록하는 것이 아닙니다.
위치 기반, 좌표 기반, 부품 기반 불량 이력을 명확히 정리해야
나중에 LOT 단위 분석, 작업자 책임 분석, 품질 개선 회의 등에서
정확한 데이터를 근거로 의사결정할 수 있습니다.
MES 구축 시 초기부터 데이터 구조 표준화를 계획하여
모든 공정, 장비, 검사 기준을 통합 관리하세요.
참고 자료
- IPC-1782: Traceability for Electronic Assemblies
- SMT 검사 장비 제조사 연동 문서 (Koh Young, Yamaha, Mirtec, Test Research 등)
- MES 데이터베이스 설계 가이드 (중소벤처기업부 스마트팩토리 구축자료)
